PTREX Wafer Map Editor

Описание

PTREX Wafer Map Editor — это мощное программное обеспечение, предназначенное для профессионалов в области микроэлектроники, которые работают с полупроводниковыми пластинами и необходимостью анализа, редактирования и визуализации карт разбраковки кристаллов. Этот универсальный инструмент предоставляет возможность просматривать и редактировать файлы, содержащие топологические карты годности полупроводниковых пластин, созданные автоматическими зондовыми станциями и используемые для оценки качества продукции на этапе контроля.

Основная функция PTREX Wafer Map Editor — визуализация карт, которая позволяет инженерам и специалистам легко интерпретировать данные измерений кристаллов на пластине. Программа поддерживает импорт данных из различных форматов, что обеспечивает гибкость в интеграции с существующими станциями и системами измерения. Поддержка форматов TSK/Accretech и ОАО «Планар» (КБТЭМ) делает этот продукт универсальным решением для предприятий, использующих оборудование разных производителей.

Пользователи могут просматривать карту разбраковки и выполнять её полное редактирование: выделять кристаллы, присваивать им новые категории качества, менять цветовое отображение для различных категорий годных и бракованных элементов. Эта возможность обеспечивает точную настройку визуализации под требования конкретного производства или анализа.

Кроме просто редактирования, PTREX Wafer Map Editor предлагает расширенные функции статистики. В программе доступны сведения о общем количестве кристаллов на пластине, количестве годных и бракованных элементов, а также детализация по категориям брака. Эти данные позволяют оперативно оценить качество изделия и выявить возможные проблемные зоны производства.

Программа также включает функции экспорта и конвертации данных, что значительно повышает её универсальность. Пользователи могут сохранять карты в форматах PDF, Excel, Txt, а также экспортировать в специализированные форматы Amadyne Fab1 и Minder-Hightech для дальнейшего анализа или интеграции с другими системами.

Интерфейс PTREX Wafer Map Editor интуитивно понятен, что облегчает обучение новых операторов и повышает эффективность работы. Гибкие настройки цветов и символов позволяют адаптировать отображение под нужды пользователя и стандарты предприятия.

Программа рекомендуется для использования в микроэлектронных предприятиях, где критически важно точное определение качества кристаллов на пластинах, контроль соответствия стандартам качества, а также для проведения входного и выходного контроля. Благодаря расширенной функциональности и поддержке различных форматов, PTREX Wafer Map Editor обеспечивает высокий уровень автоматизации и точности в работе с картами разбраковки, значительно повышая производительность и точность аналитики.

В дополнение к основным функциям, программа предусматривает возможность дальнейшего расширения и добавления новых форматов файлов, что делает её актуальной и пригодной для долгосрочной эксплуатации в быстроразвивающейся области микроэлектроники.В целом, PTREX Wafer Map Editor — это надежный и многофункциональный инструмент, который обеспечивает полный цикл работы с картами разбраковки, облегчая процесс контроля и анализа качества полупроводниковых пластин, что делает его незаменимым помощником специалистов в микроэлектронной индустрии.