Описание
НПЦ «ЭЛВИС» сообщает о начале серийных поставок радиационно-стойких микросхем памяти 1657РУ1У.
Эта микросхема представляет собой статическое асинхронное КМОП ОЗУ (SRAM) емкостью 4 Мбит с организацией 512К×8, стойкое к воздействию специальных факторов и предназначенное для использования в большинстве радиационно-стойких приложений.
Косвенными аналогами 1657РУ1У являются микросхемы UT8R512K8 (Aeroflex), AT60142E (Atmel), HX6408 (Honeywell) и AS5C512K8 (Austin Semiconductor).
С целью обеспечения качественного экстраполирования жизнеспособности устройства в радиационной среде испытания микросхемы 1657РУ1У проведены на моделирующих установках. При испытаниях на воздействие отдельных тяжелых заряженных частиц использовался изохронный циклотрон У-400М (ОИЯИ, г. Дубна Московской области).
Микросхемы облучали стандартным набором ионов: Kr, Xe, Ar и Ne при нормальной температуре корпуса, ионами Xe при температуре 65 °С и впервые в истории отечественных испытаний — ионами Bi при температуре 100 °С.
ОЗУ 1657РУ1У является первой отечественной микросхемой, прошедшей испытания по оценке воздействия на работоспособность изделия вторичного излучения, вызванного нейтронными потоками, что особенно актуально для авиационной электроники.
Если вы обнаружили ошибку, пожалуйста, уведомите нас — выделите текст с ошибкой и нажмите клавиши Ctrl+Enter. Отключите блокировщик рекламы, если после нажатия комбинации кнопок не срабатывает всплывающее окно.
